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中国地区ナノテクノロジー・ネットワーク 平成23年度電子線描画リソグラフィスクール開催

(2011年6月30日掲載)

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 平成23年度電子線描画リソグラフィスクールが、東京工業大学 電子ビームによるナノ構造造形・観察支援と山口大学 産学公連携・イノベーション推進機構 ナノテクノロジー・ネットワークの主催によって、平成23年6月7日から10日にかけて、山口大学産学公連携・イノベーション推進機構の先端研究棟において開催されました。
 初日の7日には、佐藤 誠 氏(㈱トクヤマ)による「電子線用高解像度ネガ型レジストTEBN-1の開発と特性」、生津 英夫 氏(NTTアドバンステクノロジー)による「高精度電子ビームナノリソグラフィとその応用」、山本 治朗 氏(日立中央研究所)による「電子線リソグラフィの高解像・高速化」、宮本 恭幸 氏(東京工業大学)による「デバイス・プロセスを見込んだ電子ビーム露光」、といった4つの講演が行われ、学内外より37名(社会人15名、学生22名)の方が熱心に聴講されました。
 続く8日(水)~10日(金)には、リソグラフィによる超微細加工の実習として、三層レジストを用いた高速トランジスタ用Tゲート作製(右の写真)が山口 武 氏(東京工業大学)により行われ、10名(社会人5名、学生5名)の方が参加されて最先端の技術を習得されました。